一、扫描电镜简介

扫描电镜（Scanning electron microscope，SEM）是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器，介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好、分辨率高，成像直观、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜，可测样品种类丰富，几乎不损伤和污染原始样品以及可同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息等优点。
 

我们拥有多年的丰富经验，平台放大倍数110,000倍，分辨率优于17nm，30秒快速得到表面细节丰富的优质显微像，可用于测量亚微米或纳米尺寸的样品，可以提供从样品制备、干燥、喷金、扫描电镜观察、数据分析注解等全方位服务，样品检测结果照片质量高、数量多、周期短。

二、原理流程

扫描电子显微镜电子枪发射出的电子束经过聚焦后汇聚成点光源；点光源在加速电压下形成高能电子束；高能电子束经由两个电磁透镜被聚焦成直径微小的光点，在透过最后一级带有扫描线圈的电磁透镜后，电子束以光栅状扫描的方式逐点轰击到样品表面，同时激发出不同深度的电子信号。此时，电子信号会被样品上方不同信号接收器的探头接收，通过放大器同步传送到电脑显示屏，形成实时成像记录（图a）。由入射电子轰击样品表面激发出来的电子信号有：俄歇电子（Au E）、二次电子（SE）、背散射电子（BSE）、X射线（特征X射线、连续X射线）、阴极荧光（CL）、吸收电子（AE）和透射电子。每种电子信号的用途因作用深度而异。
 

在扫描电镜中，入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步，保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应，称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图象单元构成的，正因为如此，才使得扫描电镜除能显示一般的形貌外，还能将样品局部范围内的化学元素、光、电、磁等性质的差异以二维图象形式显示。

三、透射电镜的应用

扫描电子显微镜是一种大型分析仪器，它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。目前，扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究，仅在地球科学方面就包括了结晶学、矿物学、矿床学、沉积学、地球化学、宝石学、微体古生物、天文地质、油气地质、工程地质和构造地质等。
 

    

另外，冷冻扫描电镜技术服务是克服样品含水问题的一个快速、可靠和有效的方法。样品不经过繁杂的脱水过程，而是直接将样本置于温度比液氮更低的液氮泥中。这时的水分快速固化却保持体积不变，极大地保证了样品本来的面貌。不再干瘪，变形。冷冻扫描电镜技术还广泛地被用于观察一些“困难”样品，如那些对电子束敏感的具有不稳定性的样品。

四、交付内容
 

• 1、拍摄原图；
• 2、相关报告。

参考文献
 

[1] OsMADS1 Regulates Grain Quality, Gene Expressions, and Regulatory Networks of Starch and Storage Protein Metabolisms in Rice,Int. J. Mol. Sci. 2023, 24(9), 8017.